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產品型號:DP048-BJ-8.1L 所屬分類:雙頭探針 產品介紹:探針外徑為0.48mm,總長度為8.1mm、針的兩端的頭型為尖頭、圓頭 產品優勢:產品采樣穩定、產品過載穩定、產品測試誤判率低 主要應用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket???? 主要應用行業:手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業幾乎都被推行使用半導體測試探針進行測試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業。 熱線電話:400-183-6682
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以下是一些關于測試探針常見的問題:一、性能與準確性方面1. 測量不準確原因:探針的尖端可能會因磨損導致形狀變化,進而影響與測試對象的接觸面積和接觸效果,使測量結果出現偏差;探針的尺寸和形狀若與被測物不匹配,也會在不同表面上產生不同的測試值;材料的性質和制造工藝不佳,可能使探針在測試過程中表現不穩定;外界環境因素如溫度、濕度、氣壓的變化,可能導致探針的材料性質改變或影響其與測試樣品的接觸,造成測試誤差。解決方法:定期檢查和更換探針,確保其尖端的完整性和準確性;根據被測物的特性選擇合適的探針尺寸和形狀,并在測試前對實驗樣品進行適當調整以適應探針特性;選擇高質量的探針材料和先進的制造工藝,提高探針的穩定性和可靠性;控制測試環境的溫度、濕度等條件,減少外界環境對測試結果的影響。2. 重復性差原因:除了上述影響測量準確性
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